粒度测量的主要方法

       颗粒测量的方法很多，这些方法或是基于单个颗粒的维度，或是基于颗粒群体特征。每种方法涵盖不同的粒径范围，并基于不同的物理原理。一般来说，这些方法可以分为直接观测、基于颗粒群的光学方法和基于介质中颗粒运动的技术。常用的测量方法包括筛分法、显微图象(动态／静态)法、沉降法、电阻法、激光散射法、电子显微镜法、光阻法、透气法、动态光散射法等。  
       (1)筛分法具有简单、直观、设备造价低等特点，常用于大于40微米的样品。其缺点是结果受人为因素和筛孔变形影响较大。  
       (2)显微图像法除具有简单、直观等特点外，还可进行形貌分析，适合分布窄(最大和最小粒径的比值小于10:1)的样品。其缺点是代表性差，分析分布范围宽的样品比较麻烦。  
       (3)沉降法(包括重力沉降和离心沉降)操作简便，仪器可以连续运行，价格低，准确性和重复性较好，测试范围较大，缺点是测试时间较长，操作较繁琐。  
        (4)电阻法操作简便，可进行颗粒计数，速度快，准确性好，缺点是不适合测量小于0.1微米的颗粒样品，对粒度分布宽的样品需要频繁更换小孔管。  
       (5)激光散射法操作简便，测量速度，测量范围宽，重复性和准确性好，可进行在线测量和干法测量，其缺点是结果受分布模型影响。  
       (6)电子显微镜法适合超细颗粒测量，分辨率高，可进行形貌和结构分析。其缺点是样品少，代表性差，仪器价格昂贵。  
       (7)光阻法具有测量便捷快速，可测液体或气体中的颗粒数，分辨力高。其缺点是不适合测量小于1微米的颗粒样品，进样系统要求较高，仅适合尘埃、污染物或已稀释好的药物进行测量。  
        (8)透气法仪器价格低，不需对样品进行分散，可测磁性粉体材料。其缺点是只能得到平均粒度值，不能测粒度分布，且不能测小于微米细粉。  
       (9)动态光散射法适用于亚微米及纳米级颗粒的粒度测量，作为基光散射方法的一种，具有重复性和准确性好的特点，但其缺点也是测量结果受分布模型影响。  
       粒度测量技术基于多种原理，每种技术产生一个特征尺寸或等效球体的尺寸分布，对于非球形颗粒，测量结果则取决于测量原理。由于这种依赖性，采用不同技术得到的非球形颗粒的粒度分布则可能是有差异的，差异的大小很大程度上取决于颗粒的形状。