纳米颗粒粒径检测筛分法：筛分法测定粒径时，按照被测试样的粒径大小及分布范围，将大小不同筛孔的筛子叠放在一起进行筛分，收集各个筛子的筛余量，称量求得被测试样以重量计的颗粒粒径分布。筛分法适于粒度≥30μm的粉体。测定时取一定量的粉料通过筛子，测定筛余量(即通不过的粉料量)占总重量的百分率，筛余越多，说明粉料颗粒愈粗。不同产品有不同的筛余量。其中重要的参数是筛分直径(颗粒能够通过的最小方筛孔的宽度)和筛孔的大小，用目表示每一英寸长度上筛孔的个数。
纳米颗粒粒径检测光阻法：当颗粒通过光束时，部分光被挡住，引起光电检测器信号变化，该信号脉冲的个数对应于颗粒的个数，而脉冲的面积对应于颗粒的大小。样品需稀释到极低浓度，测量结果取决于校准。
纳米颗粒粒径检测动态光散射法：当颗粒粒度小于光波波长时，由瑞利散射理论，散射光相对强度的角分布与粒子大小无关，不能够通过对散射光强度的空间分布(即上述的静态光散射法)来确定颗粒粒度，动态光散射正好弥补了在这一粒度范围其他光散射测量手段的不足，原理是当光束通过产生布朗运动的颗粒时，会散射出一定频移的散射光，散射光在空间某点形成干涉，该点光强的时间相关函数的衰减与颗粒粒度大小有一一对应的关系。通过检测散射光的光强随时间变化，并进行相关运算可以得出颗粒粒度大小。尽管如此，动态光散射获得的是颗粒的平均粒径，难以得出粒径分布参数。动态光散射法适于测定亚微米级颗粒。
